Tester di invecchiamento dei chip CFT1000
Il test di invecchiamento è una valutazione critica della stabilità operativa di un chip in condizioni di temperatura estreme. Esponendo il chip ad ambienti ad alta o bassa temperatura per periodi prolungati e monitorandone le prestazioni, il Chip Aging Tester CFT1000 valuta efficacemente l'affidabilità e la stabilità del dispositivo.
- HC
- CINA
- 1 MESE
- 3000/MESE
- informazione
IL Tester di invecchiamento dei chip CFT1000 esegue test di invecchiamento completi collegandosi al dispositivo in prova (DUT) tramite cavi e dispositivi ad alta temperatura. Dopo l'accensione, il Tester di invecchiamento dei chip CFT1000 monitora costantemente molteplici parametri di prestazione del DUT in condizioni di temperatura estreme, tra cui tensione, corrente, frequenza, temperatura, lettura/scrittura della memoria e funzioni di comunicazione, per determinare se il chip soddisfa gli standard di qualificazione.
IL Tester di invecchiamento dei chip CFT1000 è ideale per i test di burn-in dei chip di clock RTC e di altri dispositivi a semiconduttore, supportando fino a 480 DUT in un singolo ciclo di test. Tester di invecchiamento dei chip CFT1000 può misurare segnali critici come tensione, corrente, frequenza e temperatura, con un'ampia gamma di temperature da -55℃ a 155℃La comunicazione con il DUT avviene tramite I2C, SPI o RS485 interfacce, mentre il Tester di invecchiamento dei chip CFT1000 si collega a un PC host tramite USB/EthernetInoltre, il Tester di invecchiamento dei chip CFT1000 è dotato di un alimentatore a doppio canale integrato per configurazioni di test flessibili.
Software e automazione intuitivi
Il software Chip Aging Tester CFT1000 supporta sia la modalità di test manuale che quella automatica. In modalità automatica, gli utenti possono importare file script di test per configurare automaticamente i parametri. Dopo aver cliccato sul pulsante "Eseguito", Tester di invecchiamento dei chip CFT1000 Esegue la sequenza di test in modalità single-pass o loop. Tutti i dati e i risultati dei test vengono automaticamente registrati in un report generato dal computer per ulteriori analisi.
Configurazione e funzionamento del test
Il DUT viene posizionato sulla presa del dispositivo di prova, mentre il dispositivo e il DUT sono alloggiati all'interno di una camera termica.
IL Tester di invecchiamento dei chip CFT1000 e il PC rimangono all'esterno della camera, collegati tramite cavi ad alta temperatura (per segnale/alimentazione) e USB (per la comunicazione dati).
Per iniziare il test:
Collegare l'alimentatore CA e accendere il Tester di invecchiamento dei chip CFT1000.
Lanciare il Tester di invecchiamento dei chip CFT1000 interfaccia software.
Avvia il processo di test con un solo clic.
Riepilogo delle caratteristiche principali
Test ad alta produttività: Supporta 480 DUT contemporaneamente.
Ampio intervallo di temperatura: Da -55℃ a 155℃ per la simulazione di ambienti estremi.
Multi-interface support:I2C, SPI, RS485 per una comunicazione DUT flessibile.
Reporting automatico: Genera registri di test e report in tempo reale.
IL Tester di invecchiamento dei chip CFT1000 garantisce una convalida efficiente e accurata dell'affidabilità dei semiconduttori, rendendolo uno strumento essenziale per la produzione e la garanzia della qualità dei circuiti integrati.
